日本KETT LZ-373雙功能膜厚計，可以用來測定磁性體及非磁性金屬物上的被膜厚度量測。LZ-373雙功能膜厚計包含了電磁膜厚計LE-373及渦電流膜厚計LH-373的所有功能，可針對多樣的素材、多樣的被膜量測，例如：鋅、硬鉻、化學鎳、塗裝、烤漆、電著、陽極處理、皮膜處理、鐵氟龍、砝瑯、達可锈、各種非金屬被膜等，為最適合於現場使用的膜厚測定儀。
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型號
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LZ-373
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測定方式
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電磁誘導／渦電流式兩用
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測定對象
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磁性體上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜
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測定範圍
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電磁誘導式：0~2500um或99.0mils
渦電流式：0~1200um或47.0mils
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測定精度
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50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2%
1000um以上：±3%
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最小解析
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100um以下：0.1um；100um以上：1um
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符合規範
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電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376
渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376
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記憶容量
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約39,000點
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檢量曲線
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具100條檢量曲線記憶容量（電磁誘導式50條；渦電流式50條）
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測頭型式
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一點接觸定壓式（LEP-J、LHP-J）
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顯示方式
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具背光式LCD數值顯示，最小解析0.1um
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外部輸出
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個人電腦(USB & RS-232C)
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使用電源
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單3鹼性電池x4只
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消費電力
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80mW(背光關閉時)
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電池壽命
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約100小時(背光關閉、連續使用)
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操作溫度
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0~40℃
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附加機能
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檢量曲線選擇、基體校零、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算、選擇顯示、日期時間、自動關閉時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號、測定方式、維修模式
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尺寸重量
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75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg
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標準附件
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校正標準片x6片、標準片盒子、鐵素材、鋁素材、曲面固定器、攜帶皮套組、鹼性電池x4只
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